直接测量 — 光束分析相机

• 适用于多种尺寸聚焦光斑：

• 波长 190–1350 nm：可测 ≥32 μm 光斑

• 波长 1350 nm–2 μm：可测 ≥150 μm 光斑

• 波长 2–16 μm：可测 ≥170 μm 光斑

• 可实现精确直径测量、二维成像及光束轮廓分析

直接测量 — 扫描狭缝式光束分析仪

• 适用于波长 190–2500 nm、尺寸 ≥2 μm 的聚焦光斑

• 可提供精确直径测量及 X/Y 方向叠加轮廓

经中继成像或放大方式测量

若无法进行直接测量，DataRay 工业激光监测系统（ILMS）是极佳选择。ILMS 是高度可定制化系统，专为需要中继成像或放大的高功率聚焦测量设计。该系统包含集成高功率光束采样器的中继光路，并可搭配功率计使用，在 DataRay 软件中同时实现实时功率监测与光束轮廓分析。

如您不确定哪款产品最适合您的应用，或有定制化需求，欢迎联系我们。（📞13545051195， info@laspeed.cn）