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扫描狭缝式激光光束质量分析仪
追求高分辨率、宽波长范围的应用场景中，扫描狭缝式光束轮廓仪是您的理想选择。Dataray的Beam'R2、BeamMap 系列产品，采用 USB 2.0供电，通过窄缝在入射光束与大面积单元探测器之间进行扫描，生成沿扫描狭缝长度积分的光束光强 XY轮廓，实现精准的光斑直径测量。刀口模式，可测量直径小至 2 μm 的光束，分辨率达亚微米级。
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产品详情
追求高分辨率、宽波长范围的应用场景中，扫描狭缝式光束轮廓仪是您的理想选择。Dataray的Beam'R2、BeamMap 系列产品，采用 USB 2.0供电，通过窄缝在入射光束与大面积单元探测器之间进行扫描，生成沿扫描狭缝长度积分的光束光强 XY轮廓，实现精准的光斑直径测量。刀口模式，可测量直径小至 2 μm 的光束，分辨率达亚微米级。
在优先追求高分辨率、宽波长范围的应用场景中，扫描狭缝式光束轮廓仪是您的理想选择。Dataray Beam'R2、BeamMap 系列产品，采用 USB 供电，通过窄缝在入射光束与大面积单元探测器之间进行扫描，生成沿扫描狭缝长度积分的光束光强 XY 轮廓，实现精准的光斑直径测量。刀口模式，可测量直径小至 2 μm 的光束，分辨率达亚微米级。
Beam'R2 结构紧凑、性能出色且性价比高，适用于相机型设备无法覆盖的波长及微小光束测量，以及仅需单一 Z 轴平面 XY 轮廓分析的场景。
BeamMap2 支持 Z 轴多平面扫描，可实时实现 XYZΘΦ 轮廓分析、焦点定位及实时 M² 测量，Z 轴平面间距可根据应用需求合理设置。
| 产品型号 | Beam'R2 | BeamMap2 |
| 产品类型 | 扫描狭缝式
| 扫描狭缝式
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| 核心特点 | 集成 X/Y 双方向轮廓测量 | 实时 XYZθΦ 测量、焦点定位； 实时指向、发散角、M² 测量 |
| 接口 | 总线供电 USB 2.0 | |
| 适配光束类型 | 连续波 / 准连续波QCW | |
| 波长范围 | Si：190-1150nm | |
| InGaAs：650-1800nm | ||
| 扩展型 InGaAs：1800-2500nm | ||
| 最佳分辨率 | 0.1 μm | |
| 最小可测光束直径 | 2 μm（刀片边缘模式） | 5 μm（Si） |
| 铟镓砷：10μm | 10 μm (InGaAs) | |
| 最大可测光束直径 (mm) | Si: 4x4 InGaAs: 3x3 扩展型 InGaAs：2x2 | |
| 更新速率 | 5 Hz 实时（2-10Hz 可调） | |
| M² 测量 | 支持（搭配 M2DU 平移台） | 支持-实时 |
| 焦点定位 | ||
| 指向 / 发散角测量 | ||
| 可选开关增益 (dB) | 32dB | |
